P74

2 Komentarze

    • Podsumowując przeprowadzony test symulujący starzenia się diod półprzewodnikowych można stwierdzić, że istnieje korelacja między czasem życia diody a napięciem przewodzenia. Obserwowana korelacja jest słaba, co w mniej krytycznych zastosowaniach może być podstawą do pominięcia tego parametru jako elementu analizy WCA. Każdy z testowanych producentów uzyskał ostatecznie bardzo zbliżone wyniki odnośnie do pomiaru napięć przed i po zakończeniu testu.

Dodaj komentarz

Twój adres email nie zostanie opublikowany.


*


pl_PLPolski