P74

2 Comments

    • Podsumowując przeprowadzony test symulujący starzenia się diod półprzewodnikowych można stwierdzić, że istnieje korelacja między czasem życia diody a napięciem przewodzenia. Obserwowana korelacja jest słaba, co w mniej krytycznych zastosowaniach może być podstawą do pominięcia tego parametru jako elementu analizy WCA. Każdy z testowanych producentów uzyskał ostatecznie bardzo zbliżone wyniki odnośnie do pomiaru napięć przed i po zakończeniu testu.

Leave a Reply

Your email address will not be published.


*


en_USEnglish